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X射线荧光光谱仪 的构成与分析原理

发布日期: 2022-06-08
浏览人气: 339
 X射线荧光光谱仪 (XRF)由激发源(X射线管)和探测系统构成。X射线管产生发射X射线(一次X射线),激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素都会放射出二次X射线,并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后,仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。 元素的原子受到高能辐射激发而引起内层电子的跃迁,同时发射出具有一定特殊性波长的X射线,根据莫斯莱定律,荧光X射线的波长λ与元素的原子序数Z有关,其数学关系如下:λ=K(Z− s)−2(K和S是常数)。根据量子理论,X射线可以看成由一种量子或光子组成的粒子流,每个光具有的能量为:E=hν=h C/λ(E为X射线光子的能量,单位为keV;h为普朗克常数;ν为光波的频率;C为光速)。
 
量色散X荧光光谱仪的性能特点:  

1、不同客户可设置不同的限定标准,告别繁琐的更换限定值的烦恼;  

2、集成数据统计功能,方便品质部门筛选统计供应商、物料名称、部件以及通过不同时间段测试状况;  

3、分析数据一键备份还原功能,避免因误操作或其它原因造成的损失,保障数据及系统文件安全。  

4、采用FW7版本的探测器,仪器自动校准,确保仪器测试数据的准确性;  

5、自带WIFI系统,方便接入网络打印机和远程数据调试;  

6、开放式工作曲线标定功能,客户可自主增加测试项目;  

7、可自定义多种报告输出形式;  

8、超大数据库,确保测试结果的准确性;  

9、高清摄像定位系统,准确定位测试点;  

10、样品测试结束时,有音乐提醒,提示跟换样品,提高工作效率。

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